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X射线检测设备

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X射线检测设备

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  • 发布日期:2021/11/25
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X射线检测设备


X射线检测设备的射线照相法的缺点是大量信息投射在单一的平面上,而且当沿样品厚度的微结构特征的数量很多时,所得图像难以解释这些信息。层析照相法则通过将大量的这种射线照片的信息结合在一起,从而弥补了这种不足。其中各辐射线照片取自位于探测器前面的样品的不同方位。如果各射线照片之间的脚步足够小,则可根据成套的射线照片来重新计算出样品中各点的衰减系数值。这种重构可通过合适的软件来实现。

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